本发明提供一种光电图像传感器辐射瞬态响应的测试方法，该方法解决了不同辐射环境下光电图像传感器瞬态响应典型特征及规律实验测试的问题，实现对瞬态响应快速、准确测试与分析，为应用于辐射环境下光电图像传感器辐射噪声处理、辐射信号识别提供技术支撑。为避免器件本底噪声的影响，本发明方法在开展测试时通过采集多帧暗场图像求均值，随后在数据处理过程中采用减去本底噪声的方法。为避免测试过程中器件发热对结果的影响，在开展瞬态响应测试时，首先对测试系统进行预热处理并进行监测，待温度稳定后开展测试。为避免辐射噪声对测试结果的影响，通过定期将光电图像传感器瞬态响应测试系统移出辐射场，或更换光电图像传感器。