用于检测调制传递函数以及使光学系统对中的设备
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种用于检测具有至少一个透镜(6)或透镜组的光学系统(4)的成像品质的设备(2)。该设备(2)包括用于在光学系统(4)的视野中的多个位置处测量调制传递函数的MTF测量装置(10)，以及用于测量光学系统(4)的对中状态的对中测量装置(18)。
基本信息
专利标题 ：
用于检测调制传递函数以及使光学系统对中的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518220A
申请号 ：
CN202210258826.2
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2018-06-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
尤金·杜米特雷斯库帕特里克·兰格哈宁伯格爱丽丝·埃里克森亚历山大·巴伊西蒙·齐利安艾可·鲁普雷希特
申请人 ：
全欧光学检测仪器有限公司
申请人地址 ：
德国威德尔
代理机构 ：
北京聿华联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘华联
优先权 ：
CN202210258826.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20180601
申请日 : 20180601
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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