PVD工艺腔装配辅助校准治具及方法
授权
摘要

本发明提供一种PVD工艺腔装配辅助校准治具及方法。治具包括校准杆梢和至少三组校准模块,校准杆梢的直径与治具中心设置的校准杆孔的孔径一致,使用过程中,至少三组校准模块相互接触,校准杆梢穿过校准杆孔并可插入至位于治具下方的待校准模块的圆心定位孔中;校准模块包括支撑部、校准结构和固定结构,校准结构与支撑部相连接,且可在支撑部上沿水平方向移动,固定结构与支撑部的一端相连接,校准结构包括升降杆,升降杆穿过支撑部,且可以在纵向升降。本发明可以在待校准模。块的安装过程中,辅助校准水平程度,确保安装与校准同步完成,且可实现中心精准定位,有助于提高腔体的制程工艺良率,且使用方便,有助于提高校准效率。

基本信息
专利标题 :
PVD工艺腔装配辅助校准治具及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353618A
申请号 :
CN202210279659.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-22
授权号 :
CN114353618B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
马保群陈涛崔世甲
申请人 :
上海陛通半导体能源科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区庆达路315号13幢3F
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
卢炳琼
优先权 :
CN202210279659.X
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-03 :
授权
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 5/00
申请日 : 20220322
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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