一种微波负载的吸收功率的测试方法
公开
摘要
本发明提供了一种微波负载的吸收功率的测试方法，属于微波技术领域。目的在于克服目前难以精确测量微波源工作状态下的反射系数，而缺乏精确测量微波负载吸收功率的难题。本发明将通过在微波源后级联高隔离度器件形成一个等效源结构。测量高隔离度器件的反向反射系数，就可以近似得到微波源工作状态下等效源系统的反射系数，误差极小。进而实现了对于微波负载实际吸收功率的精确测试。本方法通过微波源级联一个高隔离度器件的测试结构，建立完善的微波等效源系统信号传输模型，精确地测试微波负载的吸收功率，可用于微波测试系统中高频器件的表征，具有广泛的应用价值。
基本信息
专利标题 ：
一种微波负载的吸收功率的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609437A
申请号 ：
CN202210290414.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张尚剑顾超宇徐映敬超刘永
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210290414.7
主分类号 ：
G01R21/00
IPC分类号 ：
G01R21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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