一种微波功率放大模块精确测试方法
授权
摘要

本发明涉及微波模块测试技术领域,尤其为一种微波功率放大模块精确测试方法,包括如下步骤:步骤1:设备仪器准备;步骤2:输入链路的插损测量;步骤3:输出链路的插损测量;步骤4:待测件加电准备;步骤5:待测模块饱和功率测试。本发明,基于传统的微波信号源加功率计方式进行改进,公开了一种微波功率放大模块精确测试方法。该方法基于常规测试仪器进行合理搭配,使用该测试方可显著提高测试准确性和可靠性、具有精度高、兼容性好、散热便于处理,工作频率任意覆盖(由测试设备决定),使用方便等特点。通过此方法,使得功放模块测试变得更加简单而又准确可靠。

基本信息
专利标题 :
一种微波功率放大模块精确测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111812399A
申请号 :
CN202010627268.3
公开(公告)日 :
2020-10-23
申请日 :
2020-07-01
授权号 :
CN111812399B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
胡张平刘家兵
申请人 :
合肥芯谷微电子有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期F1楼1001-1002室
代理机构 :
昆明合众智信知识产权事务所
代理人 :
叶春娜
优先权 :
CN202010627268.3
主分类号 :
G01R21/00
IPC分类号 :
G01R21/00  G01R23/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
法律状态
2022-06-07 :
授权
2020-11-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 21/00
申请日 : 20200701
2020-10-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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