一种新型平显光轴校靶方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种新型平显光轴校靶方法,其中系统包括Ⅰ号三角架,校靶主机,六维转台,光轴校靶适配装置,飞机平显,Ⅱ号三脚架,高分辨率相机。该平显光轴校靶方法中校靶系统可以测试出被测光学系统的基准轴线,光轴校靶适配装置含有无穷远十字目标模拟系统和装有靶标的基准靶板,无穷远十字目标模拟系统的无穷远十字目标光轴与基准靶板光轴可以通过标定得出两者的固定关系,光轴校靶适配装置上的无穷远目标光轴与平显光轴一致时,校靶主机通过拍摄光轴校靶适配装置上的基准靶板图像,解算出基准靶光轴方向,最终得出平显光轴与基准轴线之间的关系,完成平显光轴校靶,该平显光轴校靶方法操作简单且便于外场光轴校靶使用。

基本信息
专利标题 :
一种新型平显光轴校靶方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527580A
申请号 :
CN202210291618.2
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-03-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王卫鹏
申请人 :
山西支点科技有限公司
申请人地址 :
山西省太原市万柏林区晋祠路一段八号中海国际中心14层
代理机构 :
太原科卫专利事务所(普通合伙)
代理人 :
武建云
优先权 :
CN202210291618.2
主分类号 :
G02B27/62
IPC分类号 :
G02B27/62  G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
G02B27/62
组装光学系统过程中专用于调节光学元件的光学仪器
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 27/62
申请日 : 20220324
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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