暴露产品薄弱环节测试方案的确定方法、装置和设备
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种暴露产品薄弱环节测试方案的确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括:获取目标产品的各组成部件,并确定与各组成部件分别对应的失效模式;确定与各失效模式分别对应的应力类型以及破坏程度等级;统计各应力类型分别对应的破坏程度总等级;依据各应力类型和各破坏程度总等级,确定测试方案;测试方案包括应力测试模式和应力测试顺序。本方法中的测试方案是针对目标产品的特性确定出的,因此按照本方法确定出的测试方案对目标产品进行薄弱环节激发测试,能够全面准确地暴露产品的薄弱环节。

基本信息
专利标题 :
暴露产品薄弱环节测试方案的确定方法、装置和设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384365A
申请号 :
CN202210292440.3
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-03-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
潘广泽李丹陈勃琛王春辉王远航刘文威丁小健董成举郭广廓
申请人 :
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址 :
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
黄晓庆
优先权 :
CN202210292440.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01M7/02  G06F17/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220324
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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