计算机老化集中检测管理方法、装置、电子设备及介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及智能工厂的领域,尤其是涉及一种计算机老化集中检测管理方法、装置、电子设备及介质,方法包括:获取被试机的测试结果,其中,测试结果包括测试工位信息,测试工位信息为被试机在进行测试时的测试工位;将测试结果存储于设定的存储单元内;基于测试结果生成二维码;获取被试机的当前位置信息;若当前位置信息与测试工位信息匹配成功,则生成反馈指令,根据反馈指令控制显示设备显示所述二维码;当前位置信息与测试工位信息匹配不成功,则将二维码存储于存储单元内。本申请具有便于对PC机的测试结果进行管理的效果。

基本信息
专利标题 :
计算机老化集中检测管理方法、装置、电子设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114416457A
申请号 :
CN202210320948.X
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-03-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
童军刘学飞申功籍勇杰王世梁跃赵留军牛进源
申请人 :
百信信息技术有限公司
申请人地址 :
山西省太原市山西综改示范区太原唐槐园区横河西二巷5号百信信创产业基地6号楼3层301-310
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
张伟
优先权 :
CN202210320948.X
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G06K7/10  G06K7/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20220330
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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