一种改进的微型阻抗测量自校准算法和装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及压电阻抗法结构健康监测技术领域，提供了一种改进的微型阻抗测量自校准算法和装置。根据修正后四组数据幅值和形状偏差的最稳定点来挑选校准电阻，从而实现微型阻抗测量装置自校准的功能。本发明所挑选出来的数据是在综合考虑阻抗幅值的精度和阻抗相位的精度的情况下校准效果最好的测量数据。
基本信息
专利标题 ：
一种改进的微型阻抗测量自校准算法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487971A
申请号 ：
CN202210345668.4
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-04-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁亚斌谭志森冯谦
申请人 ：
武汉地震工程研究院有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区珞喻东路76号卧龙.剑桥春天28栋1、2层9号
代理机构 ：
深圳市六加知识产权代理有限公司
代理人 ：
向彬
优先权 ：
CN202210345668.4
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G01N27/04 G01N27/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20220402
申请日 : 20220402
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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