H5页面的测试方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本申请提供一种H5页面的测试方法、装置、电子设备及存储介质，H5页面的测试方法，包括：获取待测试的H5页面；获得目标测试素材；控制多个不同分辨率的测试机的应用程序打开所述待测试的H5页面；填充所述目标测试素材至预先构建的页面模型，通过所述页面模型得到所述待测试的H5页面在多个所述测试机的测试结果。本申请H5页面的测试方法、装置、电子设备及存储介质，可实现待测试的H5页面的自动测试，且此种测试方式无需调整测试用例或重新编写测试用例，可以大大地提高H5页面的测试效率，较好地满足对H5页面的测试需求。
基本信息
专利标题 ：
H5页面的测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114625669A
申请号 ：
CN202210348666.0
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙涛侯会斌
申请人 ：
北京高途云集教育科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西北旺东路10号院东区17号楼2层202号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李飞
优先权 ：
CN202210348666.0
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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