本文公开一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端，包括：对处于静态测试的工作量证明（PoW）芯片，针对每一个第一逻辑计算单元（ALU），获取第一ALU读取的第一数据，第一数据根据预设的内存地址从第一存储块读取；根据确定的第一ALU数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一ALU；其中，第一ALU为待检测的PoW芯片中的任一ALU；内存地址包括：根据地址线和/或传输数据的数据线的分布确定的预设数量的地址。本发明实施例通过预设的内存地址的数据读取判断第一ALU是否用于工作量证明运算，减少了PoW芯片的检测时长；进一步，通过对芯片其他部分的逐步检测，避免了其他组成对芯片当前功能单元造成影响。