一种干涉仪测向阵列校准和验证方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种干涉仪测向阵列校准和验证方法,包括以下步骤:以干涉仪测向阵列的中心为原点建立空间坐标系,根据每个阵元到发射天线的距离以及信号波长,计算每个基线的第一暗室相位差,每个基线的相位差测量值减去第一暗室相位差得到相位差校准值;调整干涉仪测向阵列的方向,根据每个阵元到发射天线的距离以及信号波长,计算每个基线的第二暗室相位差,每个基线的远场相位差减去第二暗室相位差得到相位差修正值;将每个基线的相位差测量值加上对应的相位差修正值后输入干涉仪测向阵列系统,干涉仪测向阵列系统根据相位差校准值进行相位差校准,并计算信号的入射角度。本发明能够在不满足远场条件的暗室中进行干涉仪测向阵列校准和验证。

基本信息
专利标题 :
一种干涉仪测向阵列校准和验证方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487986A
申请号 :
CN202210405182.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯起汪明王萌
申请人 :
湖南艾科诺维科技有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市开福区伍家岭街道栖凤路486号凯乐微谷商务中心1栋7层710号房
代理机构 :
湖南兆弘专利事务所(普通合伙)
代理人 :
刘畅舟
优先权 :
CN202210405182.5
主分类号 :
G01S3/02
IPC分类号 :
G01S3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S3/00
由方向上无重要性的次声波、声波、超声波或电磁波或者粒子发射来测定方向的定向器
G01S3/02
利用无线电波的
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 3/02
申请日 : 20220418
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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