变形分析方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供了一种变形分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：当检测到目标设备在目标频率对应的噪音幅值达到噪音峰值时，对目标设备对应的模型进行变形分析；然后，根据目标设备对应的模型的变形分析结果，从目标设备的多组齿轮中选择目标齿轮组；接着，对目标齿轮组中的零部件进行变形分析；最后，根据目标齿轮组中的零部件的变形分析结果，从目标齿轮组中选择目标零部件。通过上述过程，可以逐步定位出目标设备的噪音来源，从而辅助用户对目标零部件进行噪音优化，最终达到根据形变量来优化设备的噪音的目的。
基本信息
专利标题 ：
变形分析方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593910A
申请号 ：
CN202210483762.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘敦宁高晓光苑衍灵赵培龙马宏刚王硕
申请人 ：
盛瑞传动股份有限公司
申请人地址 ：
山东省潍坊市高新技术产业开发区盛瑞街518号
代理机构 ：
北京开阳星知识产权代理有限公司
代理人 ：
王艳斌
优先权 ：
CN202210483762.6
主分类号 ：
G01M13/021
IPC分类号 ：
G01M13/021 G01M13/028
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/021
••齿轮
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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