一种可控的Chiplet串行测试电路
公开
摘要
本发明公开一种可控的Chiplet串行测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该测试电路包括主控测试模块、从控测试模块、时钟控制模块、输出模块，主控测试模块由测试访问端口模块、段插入位模块、测试数据寄存器模块组成，通过主控测试模块生成测试控制信号，从控测试模块接收到测试控制信号后分别控制从控芯粒的测试输入信号。同时，测试控制信号输入至时钟控制模块，得到从控芯粒的时钟信号。测试输出模块的输出信号由测试控制信号确定。该测试电路利用外部测试端口直接控制多芯粒集成电路的内部测试信号，实现对芯粒测试选择以及最终测试输出，保证各芯粒测试的有效性及独立性。
基本信息
专利标题 ：
一种可控的Chiplet串行测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578217A
申请号 ：
CN202210485039.1
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡志匡王运波宋健周国鹏姚佳飞徐彬彬王恒鹭王子轩郭宇锋
申请人 ：
南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区文苑路9号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
熊玉玮
优先权 ：
CN202210485039.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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