一种高精度的授时精度测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度的授时精度测量系统包括：FPGA单元，用于将外部输入的基准PPS信号输出至第一时间数字转换器，将外部输入的时统PPS信号输出至第二时间数字转换器，以及产生并输出本地PPS信号；第一时间数字转换器，用于测量基准PPS信号和本地PPS信号之间的第一相位差，并输出第一相位差；第二时间数字转换器，用于测量时统PPS信号和本地PPS信号之间的第二相位差，并输出第二相位差；微处理器，用于根据第一相位差和第二相位差得到基准PPS信号和时统PPS信号之间的相位差；恒温晶振，用于为FPGA单元和微处理器提供工作时钟。本实用新型可以方便地实现多个时统PPS信号精度的同时测量。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度的授时精度测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220291561.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
CN216748451U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
李文龙曾迎春朱敏简和兵邓意峰温学斌杨彩芳
申请人 ：
成都金诺信高科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区西芯大道5号2栋9楼2号
代理机构 ：
成都厚为专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王杰
优先权 ：
CN202220291561.1
主分类号 ：
G04F10/00
IPC分类号 ：
G04F10/00 G04D7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G04
测时学
G04F
时间间隔的测量
G04F10/00
用电装置测量未知的时间间隔的仪表
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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