介质材料及元器件温度特性辅助测试装置
专利权的终止
摘要
一种介质材料及元器件辅助测试装置，与其它介质材料或元器件测试或分析仪器联用，可测试介质材料或元器件的等效阻抗、电容量、电感量、损耗角正切，等效串联电阻等电参数的效率温度特性。该辅助测试装置具有体积小、重量轻、移动方便、耗电小，制作简使等优点。
基本信息
专利标题 ：
介质材料及元器件温度特性辅助测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102036A
申请号 ：
CN85102036.4
公开（公告）日 ：
1986-03-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85102036B
授权日 ：
1988-06-01
发明人 ：
袁战恒姚熹孟中岩
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁路28号
代理机构 ：
西安交通大学专利事务所
代理人 ：
来智勇
优先权 ：
CN85102036.4
主分类号 ：
G01N27/00
IPC分类号 ：
G01N27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
1990-08-15 ：
专利权的终止
1989-03-01 ：
授权
1988-06-01 ：
审定
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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