新型电子材料及元器件温度特性测试装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
一种新型电子材料及元器件温度特性辅助测试装置。由样品架、变温器和测温热偶组成，适用于较低频段测试，结构简单，成本低，测试费用小。
基本信息
专利标题 ：
新型电子材料及元器件温度特性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87208283.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-05-19
授权号 ：
CN87208283U
授权日 ：
1988-03-09
发明人 ：
袁战恒姚熹
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁路28号
代理机构 ：
西安交通大学专利事务所
代理人 ：
来智勇
优先权 ：
CN87208283.0
主分类号 ：
G01N27/00
IPC分类号 ：
G01N27/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
1993-02-24 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1989-02-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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