辐照显示薄膜剂量计及其制法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属于核辐射技术中剂量的监测，其内容包括一种用于60Coγ-射线辐照剂量监测的薄膜剂量计及其制法。该薄膜计量计是由含氯共聚物和染料隐色体所组成。它对可见光不敏感，对60Coγ-射线具有相当敏感性，其主要成分含有与被照物质等效的C、H、O、N等元素。该薄膜剂量计结构简单、容易制造，可为农、工、医等各领域的现场使用提供一种灵敏、可靠、稳定、直观性强的监测显示手段。剂量监测显示范围为103-107rad。
基本信息
专利标题 ：
辐照显示薄膜剂量计及其制法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104437A
申请号 ：
CN85104437.9
公开（公告）日 ：
1986-02-10
申请日 ：
1985-06-12
授权号 ：
CN85104437B
授权日 ：
1987-11-25
发明人 ：
王艳乔周小民唐掌雄张恭明
申请人 ：
中国科学院化学研究所;中国农业科学院原子能利用研究所;北京市辐射中心
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村
代理机构 ：
中国科学院专利事务所
代理人 ：
黄永奎
优先权 ：
CN85104437.9
主分类号 ：
G01T1/04
IPC分类号 ：
G01T1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/02
剂量计
G01T1/04
化学剂量计
法律状态
1994-07-13 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1988-06-08 ：
授权
1987-11-25 ：
审定
1986-02-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN85104437B.PDF
PDF下载
2、
CN85104437A.PDF
PDF下载
