检验透明料段，特别是平板玻璃的方法及设备
被视为撤回的申请
摘要
检验透明料段，特别是平板玻璃带或类似物料的缺陷的方法及其设备，是用激光器发出的高速光点在与纵向输送的玻璃带或类似物料的输送平面和输送方向相垂直的扫描平面上沿其宽度方向进行扫描，在与扫描平面倾斜的探测器平面上对由于杂质而造成的向前和向后的散射进行测定，根据所获得的测量数据导出电信号，并对其进行物料缺陷鉴别处理，从而鉴别物料的缺陷，其特征在于：将一个在近红外范围工作的激光器用作点光源，以及实施该方法的设备(参见图1)。
基本信息
专利标题 ：
检验透明料段，特别是平板玻璃的方法及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85109608A
申请号 ：
CN85109608
公开（公告）日 ：
1986-07-23
申请日 ：
1985-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
卢茨·巴特尔森
申请人 ：
平玻璃制造公司
申请人地址 ：
联邦德国菲尔特·奥托-西林大道10-14号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
杨凯
优先权 ：
CN85109608
主分类号 ：
G01N21/47
IPC分类号 ：
G01N21/47
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
法律状态
1990-03-28 ：
被视为撤回的申请
1988-03-09 ：
实质审查请求
1986-07-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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