测量物体表面位移的贴片云纹干涉法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属于光测力学技术领域。为解决现有云纹干涉法技术复杂、成本较高、试验周期长、难于在现场应用等问题，本发明的主要技术特征是，通过在测试表面粘贴全息胶片，受来自同一光源的两束准直相干光照射，在加载前后两次曝光，然后将胶片从试件分离，进行显、定影处理，得到云纹条纹，或在一次曝光制栅后镀金属膜，再实时观测云纹条纹方法，实现对物体表面位移和变形的测量。
基本信息
专利标题 ：
测量物体表面位移的贴片云纹干涉法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86100657A
申请号 ：
CN86100657.7
公开（公告）日 ：
1987-09-16
申请日 ：
1986-03-05
授权号 ：
CN1010055B
授权日 ：
1990-10-17
发明人 ：
罗至善袁福湘张桂琴
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市七里台
代理机构 ：
天津大学专利代理事务所
代理人 ：
方爱梅
优先权 ：
CN86100657.7
主分类号 ：
G01B9/025
IPC分类号 ：
G01B9/025 G01B9/027
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
G01B9/021
用全息照相技术的
G01B9/025
双重曝光技术
法律状态
1993-06-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-06-26 ：
授权
1990-10-17 ：
审定
1987-09-16 ：
公开
1986-11-05 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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