利用全息共轭像测量物体表面位移的方法
被视为撤回的申请
摘要
利用全息共轭像测量物体表面位移的方法属于力学测量中光测技术中的全息干涉术，按照国际专利分类法属于G02b类。本发明的关键是根据共轭观察点理论，利用共轭像中的信息，通过从某一观察点对共轭像的观察可以间接地获得从其共轭观察点对原始像的“观察”结果，但从该共轭观察点直接对原始像进行观察是不可能的，这样便扩大了信息来源，从而提高测量精度。
基本信息
专利标题 ：
利用全息共轭像测量物体表面位移的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85103210A
申请号 ：
CN85103210
公开（公告）日 ：
1986-07-02
申请日 ：
1985-04-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
于乃旬
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 ：
西安交通大学专利事务所
代理人 ：
于乃旬
优先权 ：
CN85103210
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1988-03-09 ：
被视为撤回的申请
1986-07-02 ：
公开
1986-06-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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