分析测定有机物质的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及用质量分析测定低浓度有机物质的方法，此法需将有机物质从高压存贮容器送至低压质谱仪中。本发明的目的是研制一种方法和装置，使ppb至ppt级的有机物质能直接用质量分析的方法进行检测，解决的办法是：a)通过剂量控制装置将存贮器与质谱仪直接相连；b)将质谱仪抽真空至正常工作气压，以减低有机物质的浓度；c)以更高的灵敏度检测有机物质。本发明特别适于测定易挥发有机化合物的光稳定性(例如环境化学剂的浓度一时间图、半衰期、反应速率常数)等。
基本信息
专利标题 ：
分析测定有机物质的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86102624A
申请号 ：
CN86102624.1
公开（公告）日 ：
1987-04-08
申请日 ：
1986-03-20
授权号 ：
CN1006414B
授权日 ：
1990-01-10
发明人 ：
弗里德海尔姆·科特阿麦特·哈鲁恩·帕拉弗里德里克·库尔斯顿
申请人 ：
库尔斯顿国际公司;光线和环境研究有限公司
申请人地址 ：
美国纽约州12208
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
徐汝巽
优先权 ：
CN86102624.1
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
1996-05-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-09-26 ：
授权
1990-01-10 ：
审定
1988-05-04 ：
实质审查请求
1987-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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