鉴别在不同反射区的光扫描期间所产生的陡沿转变的方法及其设...
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
鉴别由CCD之类对一个(诸如印刷电路板上的铜导体和背材及类似应用)表面的不同反射区进行光扫描产生的陡沿转变的方法及设备，通过延迟N个连续采样信号划定所需陡沿转变区的陡沿转变和来自其它区的不需要反射的斜率和幅度界限，由在先第N个采样信号减去每个摄象器扫描采样信号，以产生仅作为陡沿转变的大差值信号，将这种差值加到摄象器输出信号，再将这陡沿转变放大后，以确保剔除不需或假反射区信号的方式同阈值比较，产生醒目识别陡沿转变的二进制输出信号。
基本信息
专利标题 ：
鉴别在不同反射区的光扫描期间所产生的陡沿转变的方法及其设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86103469A
申请号 ：
CN86103469.4
公开（公告）日 ：
1986-12-24
申请日 ：
1986-05-17
授权号 ：
CN1006412B
授权日 ：
1990-01-10
发明人 ：
罗伯特·毕晓普
申请人 ：
贝尔电子公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州布鲁克菜恩池塘衔77号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
戴真秀
优先权 ：
CN86103469.4
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
1996-07-03 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-09-19 ：
授权
1990-01-10 ：
审定
1988-10-26 ：
实质审查请求
1986-12-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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