同轴线性位移磁性测量装置
驳回申请决定
摘要
用于机床等的一种同轴线性位移磁性测量装置。该装置包括一个线性磁性测尺，一个多隙头和一个空心导向轴。测尺是一根以预定间距录上交流磁化点的棒状磁性材料。多隙头有一个测尺通孔，测尺穿过该通孔并与通孔同轴。导向轴的一端与多隙头紧固在一起且可滑动地安装在一个外壳上，测尺的一端也固定在该外壳上，而另一端可在导向轴的内表面上滑动。轴与测尺同轴。装置的长度短于线性磁性测尺可以延伸的距离，因此装置紧凑。
基本信息
专利标题 ：
同轴线性位移磁性测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107110A
申请号 ：
CN86107110
公开（公告）日 ：
1987-04-22
申请日 ：
1986-10-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
印藤健二石丸吉彦
申请人 ：
株式会社测机舍
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
陈申贤
优先权 ：
CN86107110
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02 G01B7/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1990-08-22 ：
驳回申请决定
1989-03-15 ：
实质审查请求
1987-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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