利用测量阻抗测量物理量的方法及装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
测量阻抗，尤其是低电容量阻抗的方法。为了改进测量精度和稳定性，在该方法中，采用了有基准阻抗的电子测量仪器，这些阻抗的电气值处于测量范围之中，而且，利用测量电路的转换装置依次将测量仪器与该阻抗或被测阻抗交替连接。
基本信息
专利标题 ：
利用测量阻抗测量物理量的方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87100833A
申请号 ：
CN87100833.5
公开（公告）日 ：
1987-10-07
申请日 ：
1987-02-13
授权号 ：
CN1015023B
授权日 ：
1991-12-04
发明人 ：
马蒂·利拉
申请人 ：
瓦萨拉公司
申请人地址 ：
芬兰万塔01670
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
姚珊
优先权 ：
CN87100833.5
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2007-10-10 ：
专利权的终止专利权有效期届满
2002-03-20 ：
其他有关事项
1992-09-02 ：
授权
1991-12-04 ：
审定
1987-10-07 ：
公开
1987-09-30 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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