同位素X荧光载流测定矿浆浓度的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种同位素X萤光载流测定矿浆浓度的方法，采用低能光子源238Pu激发矿浆样品，利用在线X荧光分析中一般作为干扰谱线处理的反散射峰强度测出与其对应的瞬时浓度值。可以在线测定含各种元素、任何范围的矿浆浓度值。
基本信息
专利标题 ：
同位素X荧光载流测定矿浆浓度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87102281A
申请号 ：
CN87102281.8
公开（公告）日 ：
1988-10-12
申请日 ：
1987-03-23
授权号 ：
CN1011439B
授权日 ：
1991-01-30
发明人 ：
李增强张宏江张世春金晓威
申请人 ：
冶金工业部包头稀土研究院
申请人地址 ：
内蒙古自治区包头市昆区团结小区101号
代理机构 ：
冶金专利事务所
代理人 ：
陈佩琦
优先权 ：
CN87102281.8
主分类号 ：
G01N23/203
IPC分类号 ：
G01N23/203
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/203
测量背散射
法律状态
1993-07-28 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-06-24 ：
授权
1991-01-30 ：
审定
1988-10-12 ：
公开
1987-12-02 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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