一种荧光测温装置
专利权的终止
摘要
本实用新型是一种荧光测温装置，它由光学纤维、荧光体、激励装置、闪耀光栅、光电检测装置和信号处理装置构成。这种测温装置适于在高强磁场下或对金属有强烈腐蚀作用的环境中测温。测温范围为-100℃—+400℃。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光测温装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87207763.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-05-12
授权号 ：
CN87207763U
授权日 ：
1988-01-06
发明人 ：
喻支重张立儒
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市七里台
代理机构 ：
天津大学专利代理事务所
代理人 ：
江镇华
优先权 ：
CN87207763.2
主分类号 ：
G01K11/20
IPC分类号 ：
G01K11/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K11/165
有机液晶材料的
G01K11/20
利用热发光材料
法律状态
1990-09-12 ：
专利权的终止
1988-10-26 ：
授权
1988-01-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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