微机型四坐标万工显测量系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种用于机械量测量的微机型四坐标显测量系统，它由普通万能工具显微镜、位移传感系统，串/并行接口电路和微机系统所组成。应用本系统可使数据的读取，记录和处理完全自动化，避免了人为误差，提高了测量精度和检测效率，本系统提出的四坐标传感系统使万工显的应用功能有了重大的突破，由平面直角和极坐标测量扩展为空间四维坐标测量，并在微机的控制下，可以实现连续扫描采样即动态测量。实现了传统万工显难以实现的各种误差检测。本系统可利用对原有普通万工显改装，配置微机系统而实现。
基本信息
专利标题 ：
微机型四坐标万工显测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1037392A
申请号 ：
CN88102491.0
公开（公告）日 ：
1989-11-22
申请日 ：
1988-05-01
授权号 ：
CN1016273B
授权日 ：
1992-04-15
发明人 ：
王玉荣谢会崇张郁武林谦刘笃喜
申请人 ：
西北工业大学
申请人地址 ：
陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88102491.0
主分类号 ：
G01B9/04
IPC分类号 ：
G01B9/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/04
测量显微镜
法律状态
1994-03-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-01-20 ：
授权
1992-04-15 ：
审定
1990-08-08 ：
实质审查请求
1989-11-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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