足迹检测仪
视为撤回的专利申请
摘要

一种由平面镜—析光镜组成的几何光学成象系统和机械部分组成的能够对足迹进行形象比较的检测仪器,适用于刑事技术检测,在现有足迹检测技术中,凭经验分析、判断,只有少数经验丰富的专家才能胜任,费时、费力,认定率低,本发明是在金属(非金属)材料制成的箱体中,安装平面镜(7)(8)(10)及析光镜(11)组成的几何光学成象系统和其他机械部分所构成的检测仪器,一般技术人员稍加熟悉即可掌握,可快速、准确地为足迹检测提供科学依据。

基本信息
专利标题 :
足迹检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1030976A
申请号 :
CN88104831.3
公开(公告)日 :
1989-02-08
申请日 :
1988-08-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
苏尔古冷付王良马成龙袁子强高庆寿戚凯
申请人 :
航空航天工业部第四规划设计研究院
申请人地址 :
北京市德胜门外大街12号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN88104831.3
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
1992-04-22 :
视为撤回的专利申请
1990-04-11 :
实质审查请求
1989-02-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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