多功能足迹比对仪
视为撤回的专利申请
摘要
一种可供公安检察等刑事技术部门检验足迹及其它痕迹的光学仪器。它由承痕平台(透明玻璃)1、照明器2、等倍成象系统的反射镜对(或直角棱镜)3、成象物镜4、观测屏5、可转动的反射镜6、显微镜7和摄影装置8等部分组成。使用时，可利用观测屏及其附件坐标定位游尺对足迹进行观测和对比。也可通过显微镜对足迹作局部放大观察(或检验其它小痕迹)，还可以采用摄影装置取代观测屏作照相记录。
基本信息
专利标题 ：
多功能足迹比对仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1042415A
申请号 ：
CN88107391.1
公开（公告）日 ：
1990-05-23
申请日 ：
1988-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李殿奎艾岩
申请人 ：
李殿奎;艾岩
申请人地址 ：
辽宁省锦州市科学技术情报研究所
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN88107391.1
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G06K9/74
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
1992-03-18 ：
视为撤回的专利申请
1990-05-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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