一种减少杂散光的装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种减少杂散光的装置主要应用于多道原子荧光光度计原子化室中以减少室中的杂散光。从而减少仪器噪声。本实用新型主要由反射镜，观察窗，原子化室构成，选择反射镜的入射角和反射角均为45°，反射镜也可用平板玻璃代替，效果不变。该反射镜兼作仪器观察窗玻璃，使仪器外形新颖美观。
基本信息
专利标题 ：
一种减少杂散光的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88206520.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-06-07
授权号 ：
CN2031525U
授权日 ：
1989-01-25
发明人 ：
刘明钟单国惠马立军
申请人 ：
地质矿产部北京地质仪器厂
申请人地址 ：
北京市东直门外牛王庙
代理机构 ：
地质矿产部专利代理事务所
代理人 ：
盛东生
优先权 ：
CN88206520.3
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
1993-05-12 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-11-22 ：
授权
1989-01-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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