在体散射函数测量装置中减少杂散光的出射棱镜结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种在体散射函数测量装置中减少杂散光的出射棱镜结构，属于体散射函数测量领域，该出射棱镜结构由衰减模块与棱镜组合而成，光经过衰减模块后进入棱镜，在棱镜的入射面处折射，再在棱镜的反射面处反射，再在棱镜的出射面处有部分光反射，其余的光出射，反射光经由原光路返回，再经过衰减模块。本实用新型将具有特定外形并易于加工的棱镜与衰减模块组合在一起，形成一个出射棱镜结构，解决了旋转探测器式体散射函数测量中光路出射端杂散光偏高导致信噪比低的问题。
基本信息
专利标题 ：
在体散射函数测量装置中减少杂散光的出射棱镜结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921787424.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-23
授权号 ：
CN211292537U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
陶邦一吴超钒朱乾坤黄海清
申请人 ：
自然资源部第二海洋研究所
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区保俶北路36号
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
应孔月
优先权 ：
CN201921787424.1
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/47 G02B5/00 G02B5/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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