只读存储器故障诊断的方法和设备
公开
摘要
测试半导体存储器如只读存储器，通过考察其中存放的数据中的那些存储器故障时不可能存在的模式来诊断和识别其故障，用反例法从功能上验证存储器。采用存储器无故障时很快终止的概率算法实现诊断，并用存储器病态内容对诊断进行屏蔽以使误诊可能性最小。按照本发明诊断出的故障有卡死或粘连的数据线或地址线。
基本信息
专利标题 ：
只读存储器故障诊断的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1048624A
申请号 ：
CN89104755.7
公开（公告）日 ：
1991-01-16
申请日 ：
1989-07-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柯特·冈特洛夫
申请人 ：
约翰弗兰克制造公司
申请人地址 ：
美国华盛顿州
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
何耀煌
优先权 ：
CN89104755.7
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
1991-01-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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