通过式Ag-Bi薄膜激光探测器
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
通过式Ag-Bi薄膜激光探测器是专门配在激光器上检测激光功率/能量的新型探测器。本实用新型用通过式的方法，用Ag-Bi薄膜热电堆来检测激光能量。检测时激光通过探头的中间孔，靠激光侧翼光辐射来测激光能量。所以，对于激光能量既没有损失，又不用调光路，使用时可以随时检测激光能量。
基本信息
专利标题 ：
通过式Ag-Bi薄膜激光探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89206083.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-04-20
授权号 ：
CN2050161U
授权日 ：
1989-12-27
发明人 ：
韩顺姬
申请人 ：
吉林大学
申请人地址 ：
吉林省长春市解放大路83号
代理机构 ：
吉林大学专利事务所
代理人 ：
滕家春
优先权 ：
CN89206083.2
主分类号 ：
G01J1/00
IPC分类号 ：
G01J1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
法律状态
1991-09-11 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-09-19 ：
授权
1989-12-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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