测定主应力方向的光载波-相位移法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是一种根据图象光载波和相位移原理测定主应力方向的方法。把被测模型置于圆偏振光场中，采用圆锥形图象光载波器，转动载波器，根据载波后条纹图象位置或光强的变化，测得主应力方向。本方法具有快速、方便、精确度高的特点，而且设备简单，成本低廉。配合计算机系统，可实现自动化检测。本方法可适用于二维、三维光弹性及贴片法等。
基本信息
专利标题 ：
测定主应力方向的光载波-相位移法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1045177A
申请号 ：
CN90100914.8
公开（公告）日 ：
1990-09-05
申请日 ：
1990-02-17
授权号 ：
CN1014828B
授权日 ：
1991-11-20
发明人 ：
王汝鹏杜斌
申请人 ：
上海城市建设学院
申请人地址 ：
200092上海市杨浦区赤峰路71号
代理机构 ：
复旦大学专利事务所
代理人 ：
陆飞
优先权 ：
CN90100914.8
主分类号 ：
G01L1/24
IPC分类号 ：
G01L1/24 G02B27/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L1/00
力或应力的一般计量
G01L1/24
通过测量材料受应力时其光学性质的变化，例如，应用光弹性应力分析
法律状态
1993-12-29 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-08-05 ：
授权
1991-11-20 ：
审定
1990-09-05 ：
公开
1990-08-29 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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