位移测定的装置和方法
被视为撤回的申请
摘要
一用于决定物体位移的装置包括，一将多色光沿光路传到检测器(22)上的光源(10)，该检测器能检测多种不同波长的入射辐射的密度；一与所说物体机械连接，一起位移的辐射调制装置(16)，所说的物体的位移使得辐射调制装置在所说的光路上的位移以改变到达检测器的光的光谱分量分配。辐射调制装置包括一以不同程度衰减透射激光密度的滤波器，它与所说物体机械相接，使得物体运动能变化滤波器的遮断从光源来的辐射信号的程度。
基本信息
专利标题 ：
位移测定的装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86105345A
申请号 ：
CN86105345
公开（公告）日 ：
1987-10-07
申请日 ：
1986-09-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
戈登·里斯·琼斯詹姆斯·洛多维科·莫鲁齐阿卡·纳普拉加达·约拉亚纳普拉萨德
申请人 ：
利物浦大学
申请人地址 ：
英国英格兰利物浦邮箱147号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN86105345
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01J3/28 G01J3/46 G01J3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
1990-12-12 ：
被视为撤回的申请
1989-01-04 ：
实质审查请求
1987-10-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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