光谱法连续测量瞬态温度的装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
光谱法连续测量瞬态温度的装置，它主要由探测光路和扫描机构，谱线强度转换及数据采集，数据处理几部分组成的。本实用新型由于采用了对电孤成像能高速连续扫描的多面反射镜轮机构和多通道谱线强度接收器及高速A/D转换卡，因此能在短时间内测出电孤截面的温度分布及其随时间的变化。它能同时测出四条谱线的强度，因而可用于被测电孤组分含量未知的情况。
基本信息
专利标题 ：
光谱法连续测量瞬态温度的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90222194.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-10-25
授权号 ：
CN2076233U
授权日 ：
1991-05-01
发明人 ：
赵文华阎究敦张冠忠王杰陈振生何勇过增元
申请人 ：
清华大学;西安高压电器研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
张秀珍
优先权 ：
CN90222194.9
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
1993-09-15 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-01-08 ：
授权
1991-05-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
