分析气样的方法，装置及其应用以及含该装置的测试设备
专利申请的视为撤回
摘要
本发明涉及一种用含有半导体传感器的分析装置分析气体样品的方法，其特征是将传感器的输出信号对时间求微分，并用其时间导数作为分析输出信号。所述分析装置的特点是，传感器的输出被送到一个微分单元，再将微分单元的输出送到一个数据分析单元中。本发明还涉及一种测试设备，该设备带有上述分析装置，并包括一个传送装有待测气体的塑料瓶的传送装置；以及还涉及如何运用上述分析方法和装置来分析依次快速传送出来的气体试样。
基本信息
专利标题 ：
分析气样的方法，装置及其应用以及含该装置的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1085660A
申请号 ：
CN91107587.9
公开（公告）日 ：
1994-04-20
申请日 ：
1991-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
U·马泰R·农利斯特H·伯舍M·穆克劳斯基
申请人 ：
马丁·莱曼
申请人地址 ：
瑞士沃伦
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
张志醒
优先权 ：
CN91107587.9
主分类号 ：
G01N27/68
IPC分类号 ：
G01N27/68 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/68
利用放电使气体电离
法律状态
1998-04-22 ：
专利申请的视为撤回
1994-04-20 ：
公开
1994-04-06 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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