高温Schlieren-微分干涉显微镜实时观察记录仪
专利申请的驳回
摘要
一种高温Schlleren—微分干涉显微镜实时观察记录仪，属于晶体生长及其设备领域，有实时观察系统、测温、控温系统和监视与摄像系统。特点是在光路中设置楔形遮光板于焦平面上，并设置长焦距物镜及采用直径为0.3—0.5毫米的pt圈，最大限度克服液膜弯曲而产生的光象差，可观察到晶体生长时高温熔体流动和界面生长状态的清晰图象，温场分布可以调节；适用范围宽(常温—1500℃)。
基本信息
专利标题 ：
高温Schlieren-微分干涉显微镜实时观察记录仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1082718A
申请号 ：
CN92108502.8
公开（公告）日 ：
1994-02-23
申请日 ：
1992-07-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金蔚青陈锦元严鸿萍
申请人 ：
中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人地址 ：
200050上海市太宁区长宁路865号
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
聂淑仪
优先权 ：
CN92108502.8
主分类号 ：
G02B21/00
IPC分类号 ：
G02B21/00 G02B21/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
1996-10-30 ：
专利申请的驳回
1994-02-23 ：
公开
1993-02-10 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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