微机X射线实时图像处理检测系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种用于无损检测的微机Ｘ射线实时图象处理检测系统，主要由实时积分器、图象采集存储显示单元、微机、图象处理单元以及外围设备组成。图像信号由实时积分器降低噪声，消除图象模糊后输出到图象采集存储显示单元，对实时图象取样量化、存储、变换，再由图象处理单元进行图象处理变换。该系统检测灵敏度可提高０．５０％—１％，速度和效果与小型机相当，可广泛应用于无损探伤检测领域。
基本信息
专利标题 ：
微机X射线实时图像处理检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1083215A
申请号 ：
CN92109773.5
公开（公告）日 ：
1994-03-02
申请日 ：
1992-08-27
授权号 ：
CN1039163C
授权日 ：
1998-07-15
发明人 ：
吴东流王树元
申请人 ：
航空航天工业部第七○三研究所
申请人地址 ：
北京市9200信箱73分箱
代理机构 ：
航空航天工业部航天专利事务所
代理人 ：
成金玉
优先权 ：
CN92109773.5
主分类号 ：
G01N23/18
IPC分类号 ：
G01N23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2004-10-27 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-06-12 ：
其他有关事项
1998-07-15 ：
授权
1995-08-09 ：
实质审查请求的生效
1994-03-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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