X射线发射系统及检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。检测系统包括：舱体和第一探测器阵列，舱体内设有用于发射一束主射线和一束旁束射线的X射线源、用于限定主射线辐射的范围的准直器和用于采集旁束射线的辐射强度的旁束射线强度检测装置；主射线与旁束射线设置夹角；旁束射线强度检测装置测得的旁束射线的辐射强度作为补偿量修正经过待检测物的主射线的辐射强度。本实用新型对旁束射线的检测不会削弱主射线的辐射强度；减少旁束射线对环境的泄漏；并且旁束射线、主射线在不同角度上的辐射强度分布相同，旁束射线、主射线受到加速器工况波动的影响相同，因此利用旁束射线的辐射强度对主射线强度修正的更加准确。
基本信息
专利标题 ：
X射线发射系统及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021688598.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-13
授权号 ：
CN212780578U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
王骞王新奎郑振吉
申请人 ：
上海瑞示电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区川宏路508号5幢
代理机构 ：
郑州睿信知识产权代理有限公司
代理人 ：
崔旭东
优先权 ：
CN202021688598.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N23/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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