透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法
专利申请的视为撤回
摘要
本方法为用透射电镜分析金属粉体样品的制备方法。具体采用密孔金属网支撑固化金属粉体，再用离子束减薄至100nm以下或20nm以下的要求厚度，在上下均为贴有硫酸纸的玻璃片上放入树脂与粉体混合物，中间放入金属网，在60℃固化10小时，然后去掉玻璃片，用砂纸磨至金属网露出，再用离子束减薄至穿孔为止，即为薄膜样品，此种方法优点：可制作100nm以下厚度，简便易行，不需价格昂贵设备，耗能少，适用材料广泛。
基本信息
专利标题 ：
透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1083591A
申请号 ：
CN92109865.0
公开（公告）日 ：
1994-03-09
申请日 ：
1992-09-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄建宇何安强吴玉琨胡魁毅孟祥敏
申请人 ：
中国科学院金属研究所
申请人地址 ：
110015辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 ：
中国科学院沈阳专利事务所
代理人 ：
朱光林
优先权 ：
CN92109865.0
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
1997-07-23 ：
专利申请的视为撤回
1995-01-11 ：
实质审查请求的生效
1994-03-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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