无触点表面定位测量监控装置
专利申请的视为撤回
摘要
本装置属于机械表面加工测量装置，其结构由机械部分、光学部分、控制电路部分及微处理器组成，机械部分以磨床为主体，以光束为探测手段，由发光管、经透镜照射到加工件上，然后通过物镜照射到光电器件上成像，由光信号变成电信号，而后输入到微处理器，其优点是采用光电控制系统，提高了加工精度，提高了工效，可用于各种机械精密加工。
基本信息
专利标题 ：
无触点表面定位测量监控装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1084796A
申请号 ：
CN92109935.5
公开（公告）日 ：
1994-04-06
申请日 ：
1992-09-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭爱力董丽春
申请人 ：
中国科学院沈阳自动化研究所
申请人地址 ：
110003辽宁省沈阳市和平区三好街90号
代理机构 ：
中国科学院沈阳专利事务所
代理人 ：
朱光林
优先权 ：
CN92109935.5
主分类号 ：
B24B49/00
IPC分类号 ：
B24B49/00
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B24
磨削；抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺（用电蚀入B23H；磨料或有关喷射入B24C；电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00；磨具磨损表面的修理或调节；磨削，抛光剂或研磨剂的进给
B24B49/00
用于控制磨具或工件进给运动的测量或校准装置；指示或测量装置的布置，如用于指示磨削加工开始的
法律状态
1998-11-18 ：
专利申请的视为撤回
1995-11-08 ：
实质审查请求的生效
1994-04-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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