用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，首先在室内制作不同含氢量的标准模块，然后用中子散射法探测装置对这些标准模块表面进行测量，测定出每种含氢量的材料其厚度与热中子计数率的相关曲线，即该种材料的工作曲线，实测时，根据现场测得的热中子计数率，由根据被测材料的含氢量选择的与其相应的工作曲线，即可确定其厚度。它特别适合测量如混凝土或沥青混凝土路面、喷射混凝土护层这种只有一个可测面的材料的厚度。
基本信息
专利标题 ：
用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1075364A
申请号 ：
CN92114025.8
公开（公告）日 ：
1993-08-18
申请日 ：
1992-12-12
授权号 ：
CN1027662C
授权日 ：
1995-02-15
发明人 ：
曹更新程和森李樟苏
申请人 ：
水利部交通部能源部南京水利科学研究院
申请人地址 ：
210029江苏省南京市广州路223号
代理机构 ：
交通部专利事务所
代理人 ：
张丽萍
优先权 ：
CN92114025.8
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2002-01-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-02-15 ：
授权
1993-08-18 ：
公开
1993-07-28 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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