光滑圆柱零件表面裂纹检测方法
专利申请的视为撤回
摘要
本发明涉及有关光滑圆柱零件表面细微裂纹的检测方法。它利用光线反射原理，按照零件表面光洁程度分别采用片状光和准直点光源照射圆柱零件的表面，零件随着自身转动而其表面被扫描一遍，以反射后形成的亮区内光强分布情况作为判断零件表面有无裂纹的依据，光电接收器阵列及相应电子设备产生相应的检测信号并控制检测设备实现零件的自动快速筛选。本发明结构简单，操作灵活，并且对非金属材料的零件也同样有效，特别适合于大批量零件的表面裂纹检测，可大大降低零件的检测成本，经济效益明显。
基本信息
专利标题 ：
光滑圆柱零件表面裂纹检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1076783A
申请号 ：
CN93112349.6
公开（公告）日 ：
1993-09-29
申请日 ：
1993-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高建新谢嘉祥曹阳
申请人 ：
上海城市建设学院
申请人地址 ：
200092上海市赤峰路71号
代理机构 ：
复旦大学专利事务所
代理人 ：
楼涛
优先权 ：
CN93112349.6
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
1997-11-12 ：
专利申请的视为撤回
1993-09-29 ：
公开
1993-09-15 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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