高温超导薄膜微波表面电阻测试装置及方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属超导电子学领域，特别是用于检测高温超导薄膜微波表面电阻的测试装置及方法。它由测试座、被测样品、压板、密封盖及两个校准件组成。由于在结构上采用了固定测试座方案；在工作谐振模式上选用了ＴＥ011+δ；在测试方法上提出了利用对称结构进行“零表面电阻”校准及Ｑ0-1=A+BRS公式，从而实现了单片高温超导薄膜微波表面电阻ＲS的高灵敏度、高精度及非损伤测量。
基本信息
专利标题 ：
高温超导薄膜微波表面电阻测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1100522A
申请号 ：
CN93115387.5
公开（公告）日 ：
1995-03-22
申请日 ：
1993-11-16
授权号 ：
CN1049979C
授权日 ：
2000-03-01
发明人 ：
卢剑张其劭
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
610054四川省成都市建设北路二段四号
代理机构 ：
电子科技大学专利事务所
代理人 ：
严礼华
优先权 ：
CN93115387.5
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2002-01-09 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2000-03-01 ：
授权
1997-09-24 ：
实质审查请求的生效
1995-03-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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