液晶显示玻璃的透明导电层和定向膜的厚度和折射率的测量方法

专利申请的视为撤回

摘要

本发明涉及一种在液晶显示玻璃基片上，对透明导电层和定向膜的厚度和折射率进行测量的方法，其过程是将待测的液晶显示玻璃在去掉透明导电层或定向膜后，直接放在另一块同样的玻璃基片上，然后应用椭偏仪，在两个不同的入射角下测量椭偏参数，并计算出整体样品的两个不同的复折射率。将整体样品中的一块玻璃换成含有透明导电层或定向膜的液晶显示玻璃，应用椭偏仪，在同样的两个入射角下测量出椭偏参数，以两组本底的复折射率为已知参数，即可计算出待测薄层的折射率和厚度。

基本信息

专利标题：

液晶显示玻璃的透明导电层和定向膜的厚度和折射率的测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1087988A

申请号：

CN93117925.4

公开（公告）日：

1994-06-15

申请日：

1993-09-30

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

王新久

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084北京市海淀区清华园

代理机构：

清华大学专利事务所

代理人：

罗文群

优先权：

CN93117925.4

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06 G01N21/41