检测熔化的树脂中所含杂质的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种检测熔化树脂中杂质的方法。熔化树脂经过一个带有透光窗口的通道。光从光源中射出并通过窗口；而熔化树脂流过该通道。用传感器检测光被熔化树脂中所含杂质中断时产生的阴影。最后；由阴影宽度和光强度测定杂质大小。如果由检测通过熔化树脂的光所得到的光信号表明在暗区周围存在亮区；则可作出判断：暗区即是杂质的阴影。此外，为了以高精度判断杂质的形状并记录下其图像，可采用将用于上述方法中的装置与传统摄像机结合的方式。$#!
基本信息
专利标题 ：
检测熔化的树脂中所含杂质的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1109168A
申请号 ：
CN93121406.8
公开（公告）日 ：
1995-09-27
申请日 ：
1993-11-24
授权号 ：
CN1078351C
授权日 ：
2002-01-23
发明人 ：
安尾浩行出口洋成
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
张志醒
优先权 ：
CN93121406.8
主分类号 ：
G01N21/89
IPC分类号 ：
G01N21/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
法律状态
2005-01-19 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-01-23 ：
授权
1995-09-27 ：
公开
1995-09-06 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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