确定纱表面范围结构的方法和装置
专利权的终止专利权的主动放弃
摘要
纱Ｇ的表面在有多个不同结构型式的传感元件的传感器（７）上成象。单个的传感元件的信号彼此进行比较，而待测的纱表面的结构通过跟相应的传感元件的一致性来确定。待测的结构通过实际的纱表面和包括伸出的纤维及可能的夹杂物在内的纱边缘两者所组成。夹杂物也包括杂质、特别是那些由外来纤维引起的杂质。
基本信息
专利标题 ：
确定纱表面范围结构的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1109596A
申请号 ：
CN94103558.1
公开（公告）日 ：
1995-10-04
申请日 ：
1994-03-31
授权号 ：
CN1043080C
授权日 ：
1999-04-21
发明人 ：
Ｒ·亨塞尔Ｈ·旺普弗勒Ｐ·赛兹
申请人 ：
泽韦格乌斯特有限公司
申请人地址 ：
瑞士乌斯特
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
赵辛
优先权 ：
CN94103558.1
主分类号 ：
G01N33/36
IPC分类号 ：
G01N33/36
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/208
••涂料，例如镀层
G01N33/36
纺织品
法律状态
2003-05-21 ：
专利权的终止专利权的主动放弃
1999-05-05 ：
著录项目变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 泽韦格·乌斯特有限公司
变更后 : 泽韦格路瓦有限公司
变更前 : 泽韦格·乌斯特有限公司
变更后 : 泽韦格路瓦有限公司
1999-04-21 ：
授权
1996-07-10 ：
实质审查请求的生效
1995-10-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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