确定表面特征的装置和方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

一种干涉仪系统将光沿样本路径定向到样本表面且沿参考路径定向到参考表面,以使由样本表面的区域反射的光和由参考表面反射的光相干涉。在沿在样本和参考表面之间的扫描路径相对移动的过程中,传感元件以一定间隔来感测由相应的表面区域产生的干涉条纹,以提供一组用于各个表面区域的强度数据。相干峰值位置确定器为一个表面区域来根据该组强度数据确定高度数据,所述高度数据表示在扫描路径上、与该表面区域的高度相对应的位置。振幅确定器确定振幅数据,所述振幅数据表示在所确定的高度位置处强度数据的振幅。修改的表面高度计算器通过用一校正因子来修改由相干峰值位置确定器所确定的所述高度数据,以计算用于表面区域的修改的高度数据,该校正因子是使用相应的振幅数据和由校正参数提供器提供的一校正参数来确定的。

基本信息
专利标题 :
确定表面特征的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1847783A
申请号 :
CN200610067347.3
公开(公告)日 :
2006-10-18
申请日 :
2006-02-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
D·I·曼斯费尔德A·D·班克赫德
申请人 :
泰勒.霍布森有限公司
申请人地址 :
英国英格兰
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
程天正
优先权 :
CN200610067347.3
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01B11/245  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2011-01-19 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101062889186
IPC(主分类) : G01B 11/24
专利申请号 : 2006100673473
公开日 : 20061018
2008-01-30 :
实质审查的生效
2006-10-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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